[发明专利]一种垂直结构AlGaInP基发光二极管及其制造方法有效
申请号: | 201710573839.8 | 申请日: | 2017-07-14 |
公开(公告)号: | CN107240628B | 公开(公告)日: | 2019-05-24 |
发明(设计)人: | 李波;杨凯;徐洲;张双翔;石峰 | 申请(专利权)人: | 扬州乾照光电有限公司 |
主分类号: | H01L33/20 | 分类号: | H01L33/20;H01L33/22;H01L33/00 |
代理公司: | 扬州市锦江专利事务所 32106 | 代理人: | 江平 |
地址: | 225009 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种垂直结构AlGaInP基发光二极管及其制造方法,属于光电子技术领域,在衬底正面依次设置DBR层、N限制层、有源层、P限制层、电流扩展层、粗化层,在部分粗化层上设置欧姆接触层,在欧姆接触层上设置正电极;特点是述粗化层设置有若干沟槽,在沟槽的底面和侧面分别设置粗化的表面。本发明通过在粗化层设置沟槽,并在沟槽的底面和侧面分别设置粗化的表面,大大提高了粗化层的粗化面积,使外量子效应得以大幅提高,而且粗化层蚀刻出的沟槽不影响电流的横向扩展,故而实现了提高光提取率的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 垂直 结构 algainp 发光二极管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种垂直结构AlGaInP基发光二极管的制造方法,包括以下步骤:1)在衬底的同一侧依次外延生长形成DBR层、N限制层、有源层、P限制层、电流扩展层、粗化层、欧姆接触层,取得外延片;外延取得的粗化层的厚度为3~10μm;2)以外延片进行清洗、制干后,在外延片的欧姆接触层表面生长形 SiO2材料层;3)在SiO2材料层上通过涂胶、光刻、显影制作出光刻胶图形;4)将外延片经过BOE蚀刻,得到供蚀刻的图形化粗化面区域;5)对图形化粗化面区域采用湿法或干法腐蚀的方法,自SiO2材料层向下腐蚀至粗化层;6)将处延片置于粗化液中进行腐蚀处理;7)去除图形化粗化面区域以外的欧姆接触层上剩余的SiO2材料层后,在欧姆接触层上制作形成正电极;8)对衬底进行减薄研磨,然后在衬底的背面制作背电极;9)经裂片,得垂直结构AlGaInP基发光二极管;其特征在于:所述步骤5)中,在图形化粗化面区域内蚀刻出若干沟槽,且各沟槽的最大深度不大于粗化层的厚度;所述沟槽具有n个分层结构,n≥1,且沟槽的分层结构呈现台阶形貌。
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