[发明专利]一种片上存储器的调试装置及方法有效
| 申请号： | 201710575820.7 | 申请日： | 2017-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN109254883B | 公开（公告）日： | 2021-09-24 |
| 发明（设计）人： | 杨婷;孙志文;古生霖 | 申请（专利权）人： | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 姜春咸;冯建基 |
| 地址： | 518055 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种片上存储器的调试装置和方法，包括输入控制单元、寄存器单元、控制单元和译码单元，其中，输入控制单元用于接收并解析外部输入的调试控制信息，将所述解析后的调试控制信息存储至寄存器单元；控制单元用于从所述寄存器单元获取所述解析后的调试控制信息，生成相应的调试读写信号并输出至译码单元；译码单元用于接收来自控制单元的调试读写信号以及外部输入的读写信号，并进行相应的读写操作。本发明根据调试控制信息生成调试读写信号，并根据调试读写信号和外部输入的读写信号进行相应的读写操作，实现了对片上存储器灵活地访问，满足了应用对数据分析以及根据分析结果校正数据的需求，更好地支持了系统的灵活调试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 调试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种片上存储器的调试装置，其特征在于，包括输入控制单元、寄存器单元、控制单元和译码单元，其中：输入控制单元，用于接收并解析外部输入的调试控制信息，将所述解析后的调试控制信息存储至寄存器单元；寄存器单元，用于存储所述解析后的调试控制信息；控制单元，用于从所述寄存器单元获取所述解析后的调试控制信息，生成相应的调试读写信号并输出至译码单元；译码单元，用于接收来自控制单元的调试读写信号以及外部输入的读写信号，并根据所述调试读写信号和所述外部输入的读写信号进行相应的读写操作。
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