[发明专利]一种柔性IC基板氧化面积检测系统及方法有效
| 申请号： | 201710576552.0 | 申请日： | 2017-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN107369176B | 公开（公告）日： | 2021-07-20 |
| 发明（设计）人： | 胡跃明;钟智彦;罗家祥 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G06T7/62 | 分类号： | G06T7/62;G06T7/11;G06T5/50;G06T3/40;G01N21/956;G01N21/88 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 何淑珍 |
| 地址： | 511458 广东省广州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种超薄柔性IC基板氧化面积检测系统，包括：金相显微成像采集系统，包括摄像机，通过摄像机采集柔性IC基板各部分的高分辨率数字图像；图像融合系统，用于将拍摄完成后的所有图像拼接成完整的柔性IC基板图像；氧化面积快速检测系统，用于对所拼接的柔性IC基板高分辨率图像进行RGB‑HSI彩色空间转换及拓扑映射处理确定氧化面积区域。本发明还公开了一种超薄柔性IC基板氧化面积检测方法。本发明解决了柔性IC基板氧化检测过程的高分辨率显微图像面积快速计算难题，检测速度可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 柔性 ic 氧化 面积 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种超薄柔性IC基板氧化面积检测系统，其特征在于，包括：金相显微成像采集系统，包括摄像机，通过摄像机采集柔性IC基板各部分的高分辨率数字图像；图像融合系统，用于将拍摄完成后的所有图像拼接成完整的柔性IC基板图像；氧化面积快速检测系统，用于对所拼接的柔性IC基板高分辨率图像进行RGB‑HSI彩色空间转换及拓扑映射处理确定氧化面积区域。
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