[发明专利]用于测试界面电阻的器件、界面电阻测试方式及应用有效
| 申请号： | 201710608281.2 | 申请日： | 2017-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN107465391B | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 杨黎飞;张闻斌;李杏兵 | 申请（专利权）人： | 协鑫集成科技股份有限公司;协鑫集成科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | H02S50/10 | 分类号： | H02S50/10;H01L31/072 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 王乐 |
| 地址： | 201406 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测试界面电阻的器件，其包括器件主体，第一电极，位于器件主体的一侧；以及第二电极，位于器件主体的另一侧；器件主体包括：晶体硅片，第一本征层，位于晶体硅片靠近第一电极的一侧；第一掺杂非晶硅层，位于第一本征层靠近第一电极的一侧；第一掺杂非晶硅层与晶体硅片同型。上述器件，可模拟待检测的异质结太阳能电池的界面电阻情况，进而通过测量该器件的总电阻，除去其它电阻，进而获得器件的界面电阻，继而得到待检测的异质结太阳能电池的界面电阻；也即通过上述器件可以测试异质结太阳能电池的界面电阻，并且进行无损测试。本发明还提供了一种界面电阻测试方式及应用。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 界面 电阻 器件 方式 应用 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试界面电阻的器件，其特征在于，包括：器件主体，第一电极，位于所述器件主体的一侧；以及第二电极，位于所述器件主体的另一侧；所述器件主体包括：晶体硅片，第一本征层，位于所述晶体硅片靠近所述第一电极的一侧；第一掺杂非晶硅层，位于所述第一本征层靠近所述第一电极的一侧；所述第一掺杂非晶硅层与所述晶体硅片同型。
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