[发明专利]一种可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪有效
| 申请号： | 201710620594.X | 申请日： | 2017-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN107238620B | 公开（公告）日： | 2023-03-24 |
| 发明（设计）人： | 杨勇奇;王典洪;倪效勇;徐朝玉;程卓;龚芳;熊德云 | 申请（专利权）人： | 中国地质大学（武汉） |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/205;G01N23/2206;G01N23/20025 |
| 代理公司： | 武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 | 代理人： | 郝明琴 |
| 地址： | 430074 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪，包括X射线发生器、X射线衍射分析组件和荧光探测器，还包括其上下两层分别为荧光样品托盘和衍射样品托盘的双层旋转台，荧光样品托盘上设有若干荧光分析样品槽和若干通光孔，衍射样品托盘上设有与若干通光孔一一对应的若干衍射分析样品槽，一步进电机通过一旋转杆连接双层旋转台；X射线衍射分析组件包括准直调节模块和衍射探测模块，衍射样品托盘位于准直调节模块和衍射探测模块之间，荧光探测器位于X射线发生器和荧光样品托盘之间，荧光分析样品槽朝向荧光探测器设置。本发明的有益效果：集X射线荧光分析和X射线衍射分析于一体且能够一次性容纳多种样品。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 旋转 试样 射线 荧光 衍射 集成 分析 | ||
【主权项】：
一种可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪，包括X射线发生器、X射线衍射分析组件和荧光探测器，其特征在于：还包括其上下两层分别为荧光样品托盘和衍射样品托盘的双层旋转台，所述荧光样品托盘上设有若干荧光分析样品槽和与所述若干荧光分析样品槽相互间隔设置的若干通光孔，所述衍射样品托盘上设有与所述若干通光孔一一对应的若干衍射分析样品槽，一步进电机通过一旋转杆连接所述双层旋转台以驱动所述双层旋转台转动；所述X射线衍射分析组件平行于X射线光路立式安装，包括上下设置的准直调节模块和衍射探测模块，所述衍射样品托盘位于所述准直调节模块和所述衍射探测模块之间，所述荧光探测器垂直于所述X射线光路卧式安装，所述荧光探测器位于所述X射线发生器和所述荧光样品托盘之间，所述荧光分析样品槽放置荧光样品的面为倾斜面，所述倾斜面朝向所述荧光探测器设置。
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