[发明专利]半导体存储装置有效
申请号: | 201710622543.0 | 申请日: | 2017-07-27 |
公开(公告)号: | CN108630279B | 公开(公告)日: | 2022-06-21 |
发明(设计)人: | 清水麻衣;加藤光司;鎌田义彦;酒向万里生 | 申请(专利权)人: | 铠侠股份有限公司 |
主分类号: | G11C16/26 | 分类号: | G11C16/26;G11C16/10;G11C16/08 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 路勇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的实施方式提供一种意在缩短读出时间的半导体存储装置。半导体存储装置具备:第一存储单元(MT),电连接在第一位线(BL)及第一字线(WL);第二存储单元(MT),电连接在第二位线(BL)及所述第一字线;以及第一电路(42),对所述第一字线施加电压。所述第一电路在所述第一存储单元的读出中,对所述第一字线供给第一电压(VA),在所述第二存储单元的读出中,对所述第一字线供给比所述第一电压大的第二电压(VK1)。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体存储装置,其特征在于具备:第一存储单元,电连接在第一位线及第一字线;第二存储单元,电连接在第二位线及所述第一字线;以及第一电路,对所述第一字线施加电压;且所述第一电路,在所述第一存储单元的读出中对所述第一字线供给第一电压,在所述第二存储单元的读出中对所述第一字线供给比所述第一电压大的第二电压。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于铠侠股份有限公司,未经铠侠股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710622543.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体器件
- 下一篇:在非挥发性储存装置上提升数据耐久性的控制方法