[发明专利]一种缺陷检测方法及装置有效
| 申请号： | 201710645587.5 | 申请日： | 2017-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN107328791B | 公开（公告）日： | 2020-06-30 |
| 发明（设计）人： | 刘泽 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种缺陷检测方法及装置，涉及光学自动化缺陷检测领域，能够通过一种简单的缺陷检测方法来降低缺陷的过判率。该缺陷检测方法包括在待检测面板显示检测画面后，采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取检测画面中目标区域的第一量化数据；移动待检测面板至第二方位，第二方位与第一方位不同；采集处于第二方位的待检测面板的检测画面，获取检测画面中目标区域的第二量化数据；根据同一目标区域中第一量化数据和第二量化数据，确定目标区域中的实际缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：在待检测面板显示检测画面后，采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第一量化数据；移动所述待检测面板至第二方位，所述第二方位与所述第一方位不同；采集处于所述第二方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第二量化数据；根据同一所述目标区域中所述第一量化数据和所述第二量化数据，确定所述目标区域中的实际缺陷。
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