[发明专利]使用背景内建自测试的零测试时间存储器有效
| 申请号： | 201710655025.9 | 申请日： | 2017-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN108694986B | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | I·阿尔索夫斯基;E·D·亨特-施罗德;M·A·齐格霍弗尔 | 申请（专利权）人： | 马维尔亚洲私人有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 酆迅 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及使用背景内建自测试的零测试时间存储器。本公开涉及一种结构，包括存储器，其被配置为在读取端口处执行至少一个功能读取操作的同时，能够在读取/写入端口处进行零测试时间内建自测试(BIST)。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 背景 测试 时间 存储器 | ||
【主权项】：
1.一种结构，包括存储器，其被配置为在读取端口处执行至少一个功能读取操作的同时，能够在读取/写入端口处进行零测试时间内建自测试(BIST)。
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