[发明专利]一种提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法及装置有效
申请号: | 201710666710.1 | 申请日: | 2017-08-07 |
公开(公告)号: | CN107478338B | 公开(公告)日: | 2020-05-19 |
发明(设计)人: | 于江涛;汪浩波;李力;王志芬;盛杨波 | 申请(专利权)人: | 松下电器机电(中国)有限公司 |
主分类号: | G01J5/02 | 分类号: | G01J5/02 |
代理公司: | 青岛联智专利商标事务所有限公司 37101 | 代理人: | 张少凤 |
地址: | 200131 上海市浦东新区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法和装置,本发明通过步进电机带动红外线阵列传感器绕转动点转动,并且将相邻阵列点的检测角度N等分,根据N等分获取步进电机运转的N个轨迹点,在步进电机运转至每个轨迹点时,控制红外线阵列传感器采样,完成N个轨迹点的采样后,将N个轨迹点的采样按照采样顺序依次拼接生成图像,因而,本发明生成图像的分辨率比红外线阵列传感器本身的分辨率提高N倍,提高对检测目标识别的精确度。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 红外线 阵列 传感器 采样 分辨率 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法,步进电机用于带动所述红外线阵列传感器转动;其特征在于,所述方法为:将所述红外阵列传感器的相邻阵列点的检测角度N等分,根据N等分获取步进电机运转的N个轨迹点;在所述步进电机运转至每个轨迹点时,控制所述红外线阵列传感器采样;完成N个轨迹点的采样后,将N个轨迹点的采样按照采样顺序依次拼接生成图像;其中,N为正整数。
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