[发明专利]基于语义强度分层的SCD二次虚回路检查系统及方法有效
| 申请号： | 201710691679.7 | 申请日： | 2017-08-14 |
| 公开（公告）号： | CN109388838B | 公开（公告）日： | 2023-02-17 |
| 发明（设计）人： | 高翔 | 申请（专利权）人： | 福建永福数字能源技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 宣慧兰 |
| 地址： | 350108 福建省福州市*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于语义强度分层的SCD二次虚回路检查系统及方法，该系统包括：基于IEC61850标准的第一检查模块：该模块解析SCD文件得到IED静态模型，并对IED静态模型进行SCD语义检查；基于SCD规范的第二检查模块：该模块符合SCD语义检查规则的IED静态模型进行IED属性规范检查；基于Q/GDW 1396规范的第三检查模块：该模块对符合IED属性规范的IED静态模型进行IED配置检查；基于Q/GDW 1161和Q/GDW 1175规范的第四检查模块：该模块对符合IED配置检查规则的IED静态模型进行二次虚回路检查，进而输出二次虚回路检查结果。现有技术相比，本发明检查结果可靠，检查效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 语义 强度 分层 scd 二次 回路 检查 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于语义强度分层的SCD二次虚回路检查系统，其特征在于，该系统包括：基于IEC61850标准的第一检查模块(1)：该模块根据SCD文件解析得到IED静态模型，并对IED静态模型进行SCD语义检查；基于SCD规范的第二检查模块(2)：该模块对第一检查模块(1)检查后符合SCD语义检查规则的IED静态模型进行IED属性规范检查；基于Q/GDW 1396规范的第三检查模块(3)：该模块对第二检查模块(2)检查符合IED属性规范的IED静态模型进行IED配置检查；基于Q/GDW 1161和Q/GDW 1175规范的第四检查模块(4)：该模块对第三检查模块(3)检查符合IED配置检查规则的IED静态模型进行二次虚回路检查，进而输出二次虚回路检查结果。
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