[发明专利]GOA阵列基板及TFT显示大板有效

专利信息
申请号: 201710725798.X 申请日: 2017-08-22
公开(公告)号: CN107329341B 公开(公告)日: 2019-12-24
发明(设计)人: 陈仁禄;陈书志 申请(专利权)人: 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362;G02F1/1368;H01L27/12
代理公司: 44265 深圳市德力知识产权代理事务所 代理人: 林才桂
地址: 518132 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种GOA阵列基板及TFT显示大板。本发明的GOA阵列基板,将部分GOA单元中电容结构的第二电极设置为TFT测试键,该TFT测试键包括第一测试部、第二测试部、及连接所述第一测试部和第二测试部的第三连接部,其中,所述第一测试部和第二测试部分别对应TFT结构中的源极单元的形状和漏极单元的形状设置,所述第一测试部和第二测试部所构成的图形与所述TFT结构中的至少一个源漏极单元组的图形相同,本发明区分了TFT测试键位于基板内外监控可靠性的差异,将用于监控的TFT测试键设置于GOA电路中,能够精确监控GOA电路中TFT的沟道长度与源漏极最终蚀刻完成值,从而找出最佳的制程设计值。
搜索关键词: goa 阵列 tft 显示
【主权项】:
1.一种GOA阵列基板,包括:/n衬底基板(100),包括位于中部的显示区域(101)以及位于所述显示区域外围的非显示区域(102);/nGOA驱动电路(200),设于所述衬底基板(100)的非显示区域(102)上,包括多个各级联的GOA单元;/n其特征在于,每一所述GOA单元均包括相连接的电容结构和TFT结构;/n每一所述TFT结构均包括一对同层且相间隔的源极(211)和漏极(212),其中,所述源极(211)包括并列相连的多个源极单元(2111),所述漏极(212)包括多个并列相连的且与所述多个源极单元(2111)一一对应的漏极单元(2121),每一源极单元(2111)与其对应的漏极单元(2121)构成源漏极单元组,每一源极单元(2111)与其对应的漏极单元(2121)之间构成沟道区单元;/n每一所述电容结构均包括与所述源极(211)和漏极(212)同层设置的第二电极(221);/n所述多个GOA单元的电容结构中至少有一个电容结构为测试电容结构,该测试电容结构的第二电极(221)为TFT测试键(2210),该TFT测试键(2210)包括第一测试部(2211)、第二测试部(2212)、及连接所述第一测试部(2211)和第二测试部(2212)的第三连接部(2213),其中,所述第一测试部(2211)和第二测试部(2212)分别对应所述TFT结构中的源极单元(2111)的形状和漏极单元(2121)的形状设置,所述第一测试部(2211)和第二测试部(2212)所构成的图形与所述TFT结构中的至少一个源漏极单元组的图形相同。/n
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