[发明专利]错误注入测试中检测芯片敏感位置的系统

摘要

本发明公开一种错误注入测试中检测芯片敏感位置的系统，通过在错误注入攻击测试过程中，采集待测芯片的状态信号、位置信号、漏电流信号等，根据其状态信号、位置信号、漏电流信号识别确定芯片上的敏感位置区域，预生成敏感位置信息，后续在确定的敏感位置区域范围内进一步测试，并在测试过程中，对敏感位置信息进行更新、细化。本发明的系统可准确定位出芯片的敏感位置，大幅提升测试工作效率，保证测试结果的准确性、有效性。

主权项

1.错误注入测试中检测芯片敏感位置的系统，其特征在于，包括：上位机、设置于移动台上的待测芯片、漏电流采集模块、敏感位置分析模块、能量参数控制模块，上位机，用于采集待测芯片的状态信号，采集移动台的位置信号，将该状态信号、位置信号传输至敏感位置分析模块；用于根据敏感位置分析模块输出的敏感位置控制信号控制移动台移动至预定位置；漏电流采集模块，用于采集的待测芯片的漏电流信号，并对该漏电流信号进行处理后，传输至敏感位置分析模块；敏感位置分析模块，用于根据接收的状态信号，动态调整干扰源的能量参数，根据调整后的能量参数，向能量参数控制模块输出用于控制能量参数的能量参数控制信号；用于根据接收的位置信号、处理后的漏电流信号，确定待测芯片的敏感位置，根据确定的敏感位置，向上位机输出用于控制移动台移动至预定位置的敏感位置控制信号；能量参数控制模块，用于根据能量参数控制信号，控制干扰源输出的能量。