[发明专利]自动测试样式生成的电路建模方法以及自动测试样式生成电路在审
| 申请号： | 201710761584.8 | 申请日： | 2017-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN107797051A | 公开（公告）日： | 2018-03-13 |
| 发明（设计）人： | 陈海力 | 申请（专利权）人： | 联发科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185;G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京万慧达知识产权代理有限公司11111 | 代理人： | 王蕊,白华胜 |
| 地址： | 中国台湾新竹市*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种自动测试样式生成的电路建模方法、非暂态计算机可读存储介质以及自动测试样式生成电路，该电路包含处理器；以及非暂态计算机可读存储介质，其上包含储存的指令，该些指令在由处理器运行时，执行自动测试样式生成的电路建模方法，该电路建模方法包含接收一电路的模拟电路表示；以及通过用开关替换该模拟电路表示的模拟电路元件并将该电路中的错误建模为开关，产生该电路的开关级表示。因为本发明的自动测试样式生成的电路建模方法以及自动测试样式生成电路与非暂态计算机可读存储介质能够更高效地生成电路的自动测试样式。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 测试 样式 生成 电路 建模 方法 以及 | ||
【主权项】：
一种自动测试样式生成的电路建模方法，该电路建模方法包含：接收一电路的模拟电路表示；以及通过用开关替换该模拟电路表示的模拟电路元件并将该电路中的错误建模为开关，产生该电路的开关级表示。
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