[发明专利]一种三维存储器件的沟槽角度控制方法以及控制装置在审
申请号: | 201710771621.3 | 申请日: | 2017-08-31 |
公开(公告)号: | CN107507832A | 公开(公告)日: | 2017-12-22 |
发明(设计)人: | 颜元;李冠男;程媛;程挚;王家友 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11578 | 分类号: | H01L27/11578 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 430074 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本方案提供一种三维存储器件的沟槽角度控制方法以及控制装置,其中该控制方法基于离子注入工艺(IMP Process),首先确定位于三维存储器件衬底中表征待开设沟槽位置的预设标记,然后,根据所述预设标记,确定沟槽角度控制的第一方向,最后,基于所述第一方向,将所述三维存储器旋转预设角度,以使离子注入设备按照第二方向对所述三维存储器的沟槽进行离子注入操作。可见,本方案在现有离子注入设备的基础上,通过旋转预设角度改变三维存储器的硅片离子注入方向,进而控制离子注入的角度,实现了对沟槽垂直角度的精确控制,避免了IMP剂量改变以及电荷迁移,保障离子注入工艺的稳定性以及存储器的性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 三维 存储 器件 沟槽 角度 控制 方法 以及 装置 | ||
【主权项】:
一种三维存储器件的沟槽角度控制方法,其特征在于,基于离子注入工艺,包括:确定位于三维存储器件衬底中表征待开设沟槽位置的预设标记;根据所述预设标记,确定沟槽角度控制的第一方向;基于所述第一方向,将所述三维存储器旋转预设角度,以使离子注入设备按照第二方向对所述三维存储器的沟槽进行离子注入操作。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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