[发明专利]一种三维存储器件的沟槽角度控制方法以及控制装置在审

专利信息
申请号: 201710771621.3 申请日: 2017-08-31
公开(公告)号: CN107507832A 公开(公告)日: 2017-12-22
发明(设计)人: 颜元;李冠男;程媛;程挚;王家友 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11578 分类号: H01L27/11578
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 王宝筠
地址: 430074 湖北省武汉市东湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本方案提供一种三维存储器件的沟槽角度控制方法以及控制装置,其中该控制方法基于离子注入工艺(IMP Process),首先确定位于三维存储器件衬底中表征待开设沟槽位置的预设标记,然后,根据所述预设标记,确定沟槽角度控制的第一方向,最后,基于所述第一方向,将所述三维存储器旋转预设角度,以使离子注入设备按照第二方向对所述三维存储器的沟槽进行离子注入操作。可见,本方案在现有离子注入设备的基础上,通过旋转预设角度改变三维存储器的硅片离子注入方向,进而控制离子注入的角度,实现了对沟槽垂直角度的精确控制,避免了IMP剂量改变以及电荷迁移,保障离子注入工艺的稳定性以及存储器的性能。
搜索关键词: 一种 三维 存储 器件 沟槽 角度 控制 方法 以及 装置
【主权项】:
一种三维存储器件的沟槽角度控制方法,其特征在于,基于离子注入工艺,包括:确定位于三维存储器件衬底中表征待开设沟槽位置的预设标记;根据所述预设标记,确定沟槽角度控制的第一方向;基于所述第一方向,将所述三维存储器旋转预设角度,以使离子注入设备按照第二方向对所述三维存储器的沟槽进行离子注入操作。
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