[发明专利]一种光学参数测量装置及其测量方法有效
申请号: | 201710774933.X | 申请日: | 2017-08-31 |
公开(公告)号: | CN107576482B | 公开(公告)日: | 2020-06-30 |
发明(设计)人: | 刘莹莹;武震;廖永俊;李星;马慧君 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;京东方(河北)移动显示技术有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 郭润湘 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种光学参数测量装置及其测量方法,首先采用分光组件将待测试显示面板的显示光线至少分为两束测试光线,利用对应于第一光探测器的跨阻放大电路对一束测试光线进行电压值测量,之后通过控制单元根据跨阻放大电路输出的多个电压值以及预先设定的电压和积分时间的关系模型确定积分时间,接着利用对应于第二光探测器的积分电路采用确定出的积分时间对另一束测试光线直接进行准确测量,最后控制单元根据积分电路在积分时间内输出的电压值,确定待测试显示面板的显示亮度。由于采用跨阻放大电路可以实时获取测试光线的光线强度以计算出所需的积分时间,因此可省去耗时很长的积分时间调节过程,以提高对待测试显示面板的测量速度。 | ||
搜索关键词: | 一种 光学 参数 测量 装置 及其 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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