[发明专利]一种光学参数测量装置及其测量方法有效

专利信息
申请号: 201710774933.X 申请日: 2017-08-31
公开(公告)号: CN107576482B 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 刘莹莹;武震;廖永俊;李星;马慧君 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;京东方(河北)移动显示技术有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 郭润湘
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种光学参数测量装置及其测量方法,首先采用分光组件将待测试显示面板的显示光线至少分为两束测试光线,利用对应于第一光探测器的跨阻放大电路对一束测试光线进行电压值测量,之后通过控制单元根据跨阻放大电路输出的多个电压值以及预先设定的电压和积分时间的关系模型确定积分时间,接着利用对应于第二光探测器的积分电路采用确定出的积分时间对另一束测试光线直接进行准确测量,最后控制单元根据积分电路在积分时间内输出的电压值,确定待测试显示面板的显示亮度。由于采用跨阻放大电路可以实时获取测试光线的光线强度以计算出所需的积分时间,因此可省去耗时很长的积分时间调节过程,以提高对待测试显示面板的测量速度。
搜索关键词: 一种 光学 参数 测量 装置 及其 测量方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司;京东方(河北)移动显示技术有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司;京东方(河北)移动显示技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710774933.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top