[发明专利]光掩模的制造方法、光掩模以及显示装置的制造方法有效
申请号: | 201710793919.4 | 申请日: | 2017-09-06 |
公开(公告)号: | CN107817648B | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | 山口昇 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/00 | 分类号: | G03F1/00;G03F1/32 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 黄纶伟;朱丽娟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供光掩模的制造方法、光掩模以及显示装置的制造方法。能减少使用了光掩模的曝光工序中的杂散光的产生风险。一种光掩模的制造方法,该光掩模具有对透明基板上的遮光膜和半透光膜分别进行图案形成而形成的转印用图案,该转印用图案具有透光部、半透光部和遮光部,该制造方法具有:遮光膜图案形成工序,对透明基板上形成的遮光膜进行图案形成来形成遮光膜图案;半透光膜形成工序,在包含遮光膜图案的透明基板上形成半透光膜;透光部形成工序,部分地去除半透光膜、或半透光膜和遮光膜,从而形成透光部;半透光膜去除工序,去除遮光膜图案上的半透光膜,在去除工序,在成为半透光部的区域形成抗蚀剂图案,该抗蚀剂图案在半透光部和遮光部相邻的部分,在遮光部侧有附加了规定尺寸的余裕的尺寸。 | ||
搜索关键词: | 光掩模 制造 方法 以及 显示装置 | ||
【主权项】:
一种光掩模的制造方法,该光掩模具有对在透明基板上形成的遮光膜和半透光膜分别进行图案形成而形成的转印用图案,该转印用图案具有透光部、半透光部和遮光部,其特征在于,该光掩模的制造方法具有:遮光膜图案形成工序,对所述透明基板上形成的遮光膜进行图案形成来形成遮光膜图案;半透光膜形成工序,在包含所述遮光膜图案的所述透明基板上形成半透光膜;透光部形成工序,部分地去除所述半透光膜、或所述半透光膜和所述遮光膜,从而形成所述透光部;以及半透光膜去除工序,去除所述遮光膜图案上的所述半透光膜,在所述半透光膜去除工序中,在成为所述半透光部的区域中形成抗蚀剂图案,所述抗蚀剂图案在所述半透光部和所述遮光部相邻的部分中,在所述遮光部侧具有附加了规定尺寸的余裕的尺寸。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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