[发明专利]基于统计学的批量生产恒温晶振的智能老化补偿方法

摘要

本发明公开了一种基于统计学的批量生产恒温晶振的智能老化补偿方法，包括步骤1首先取同批量生产的所有恒温晶振，上电后测量所有恒温晶振的输出频率，并根据测得的输出频率获取老化漂移率特性曲线；步骤2将步骤1获得的老化漂移率特性曲线依据统计学理论对晶振的最后一组老化漂移率数据进行划分；确定该批次老化漂移率主要变化区间，选择老化漂移率主要变化区间内M个晶振的老化漂移率数据建立该批次晶振的老化预测模型；步骤3根据步骤2得到的老化预测模型获得M个晶振频率修正数据，通过MCU构成的智能补偿系统对晶振的老化特性进行智能补偿。该方法建立在统计学理论之上，可对批量生产的恒温晶振老化漂移率进行有效补偿。

主权项

一种基于统计学的批量生产恒温晶振的智能老化补偿方法，其特征在于：包括以下步骤，步骤1：首先取同批量生产的所有恒温晶振，上电后测量所有恒温晶振的输出频率，并根据测得的输出频率获取老化漂移率特性曲线；其中，恒温晶振的数量为N个，N为大于等于30的整数；步骤2：将步骤1获得的老化漂移率特性曲线依据统计学理论对N个晶振的最后一组老化漂移率数据进行划分；确定该批次老化漂移率主要变化区间，所述主要变化区间为[μ‑σ,μ+σ]，其中μ是老化漂移率的均值，σ是老化漂移率的方差；提取出老化漂移率主要变化区间内M个晶振的老化漂移率数据并建立该批次晶振的老化预测模型，其中，M为大于等于1的整数；所述老化预测模型中包含一条老化特性实测曲线和一条老化特性预测曲线；步骤3：根据步骤2得到的老化预测模型获得M个晶振频率修正数据，通过MCU构成的智能补偿系统对晶振的老化特性进行智能补偿。