[发明专利]检测热密封缺陷的方法、设备及系统在审
| 申请号： | 201710820975.2 | 申请日： | 2017-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN109387331A | 公开（公告）日： | 2019-02-26 |
| 发明（设计）人： | 王经纬;杨英魁 | 申请（专利权）人： | 王经纬;杨英魁 |
| 主分类号： | G01M3/00 | 分类号： | G01M3/00 |
| 代理公司： | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人： | 翟羽 |
| 地址： | 中国台湾南投市*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种检测热密封缺陷的方法、设备和系统，所述设备包含：一高周波产生器，用以对应一容器之端口上覆盖的金属薄膜的位置，施加高周波；一红外线摄像器，用以在该容器上方感测红外线辐射，以生成该容器各部分的温度数据；一处理装置，用以接收该温度数据；将温度数据转换成一图像；对该图像进行定位，以定义出一感兴趣区域；计算不在一合格温度范围内的温度，在该图像的感兴趣区域中所占的连续面积；对该连续面积进行计算，并根据计算结果，判断是否指示一密封缺陷；以及一输出装置，用以指示出该密封缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 温度数据 感兴趣区域 热密封缺陷 密封缺陷 图像 高周波产生器 红外线辐射 设备和系统 设备及系统 处理装置 金属薄膜 输出装置 高周波 摄像器 种检测 红外线 感测 施加 转换 检测 覆盖 | ||
【主权项】：
1.一种检测热密封缺陷的方法，其应用于检测一容器之一端口的密封特性，该容器之端口以一金属薄膜覆盖，而在该金属薄膜上迭置有一盖体，其特征在于，所述方法包含：对应该容器之端口上覆盖的金属薄膜的位置，施加高周波；利用一红外线摄像器在该容器上方感测红外线辐射，以生成该容器各部分的温度数据；将该容器各部分的温度数据转换成该容器的一图像；对该容器的图像进行定位，以定义出一感兴趣区域；计算不在一合格温度范围内的温度，在该图像的感兴趣区域中所占的连续面积；以及对该连续面积进行计算，并根据计算结果，判断是否指示一密封缺陷。
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