[发明专利]载盘及使用该载盘的电子元件量测方法及装置有效
| 申请号： | 201710846571.0 | 申请日： | 2017-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN108279354B | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 林芳旭;陈荣宗;侯元薰;黄清泰 | 申请（专利权）人： | 万润科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01;G01R31/26;G01N21/84;B65G37/02 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 闻卿 |
| 地址： | 中国台湾高雄*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种载盘及使用该载盘的电子元件量测方法及装置，包括：数个载槽，环列布设于载盘的周缘，所述载槽设有一由该载槽的内周侧朝该载槽中央处延伸凸出的遮盖部与一可供一待测元件载入的置纳空间；其特征在于，该遮盖部位于所述载槽的上方，该遮盖部遮盖待测组件顶部部分面积，可供该待测元件载入的该置纳空间设于该遮盖部的下方；一搬送步骤，该载盘以间歇性旋转流路搬送该载槽内的该待测元件至一量测区域；一量测步骤，该待测元件停留在该量测区域时，探针向上碰触该待测元件，并顶升该待测元件，使该待测元件受该遮盖部挡抵。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 电子元件 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种载盘，包括：数个载槽，环列布设于载盘的周缘，所述载槽的上方设有一由载槽的内周侧朝载槽中央处延伸凸出，并遮盖待测组件顶部部分面积的遮盖部，载槽的下方设有一可供待测组件加载的置纳空间。
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