[发明专利]一种检测交流110V-LED芯片的方法有效
| 申请号： | 201710868351.8 | 申请日： | 2017-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN107490754B | 公开（公告）日： | 2019-12-03 |
| 发明（设计）人： | 王焕友;金桂;谢光奇 | 申请（专利权）人： | 湘南学院 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 43214 长沙七源专利代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 郑隽;周晓艳<国际申请>=<国际公布>= |
| 地址： | 423099 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种交流110V‑LED芯片亮度的检测方法，包括步骤：A、用低电流正反测试芯片的亮度，并取正反向测试亮度的差值；B、将不同差值段的芯片用光型仪低电流持续点亮，并观察每个单胞的发光情况，确定存在单胞死灯的差值段，并进行重复验证，确定死灯比例最高的差值段；死灯即不亮灯的单胞；C、统计数据，确定存在漏电风险的芯片亮度差值为X，将该差值作为后续判断芯片质量是否合格的阈值标准，准确方便，有效筛选出了存在小电流漏电的芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 单胞 死灯 漏电 低电流 正反向测试 测试芯片 统计数据 有效筛选 阈值标准 小电流 点亮 亮灯 发光 验证 检测 重复 观察 交流 | ||
【主权项】：
1.一种交流110V-LED芯片亮度的检测方法，其特征在于，包括步骤：/nA、用低电流正反测试芯片的亮度，并取正反向测试亮度的差值；/nB、将不同差值段的芯片用光型仪低电流持续点亮，并观察每个单胞的发光情况，确定存在单胞死灯的差值段，并进行重复验证，确定死灯比例最高的差值段；死灯即不亮灯的单胞；/nC、存在单胞死灯的差值段的较小阈值为X，死灯比例最高的差值段的较小阈值为Y，X小于Y，确定存在漏电风险的芯片亮度差值为大于X。/n
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