[发明专利]一种 DIO 通道状态检测方法及嵌入式测试系统在审
| 申请号： | 201710877993.4 | 申请日： | 2017-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN109557892A | 公开（公告）日： | 2019-04-02 |
| 发明（设计）人： | 蒋明睿;李宁;郭策;陈明奎;费巧玲;黄帅;刘鹏翔;贺晓梅 | 申请（专利权）人： | 株洲中车时代电气股份有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02;G01R31/327 |
| 代理公司： | 北京聿华联合知识产权代理有限公司 11611 | 代理人： | 李哲伟;张文娟 |
| 地址： | 412001 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种DIO通道状态检测方法及嵌入式测试系统，其中，该方法包括：步骤一、获取待测DIO通道中待测开关器件的开关次数；步骤二、将待测开关器件的开关次数与该开关器件的预设可用开关次数参考阈值进行比较，根据比较结果确定待测开关器件的状态。本方法能够通过统计待测开关器件的开关次数来判断该待测开关器件的状态，从而在待测开关器件的开关次数达到一定次数时生成并输出告警信号，这样也就方便用户能够更加准确、可靠地了解到开关器件的当前状态，防止由于开关器件老化失效而导致对应的DIO通道失效。 | ||
| 搜索关键词： | 开关器件 嵌入式测试 状态检测 告警信号 可用 预设 老化 参考 输出 统计 | ||
【主权项】：
1.一种DIO通道状态检测方法，其特征在于，所述方法包括：步骤一、获取待测DIO通道中待测开关器件的开关次数；步骤二、将所述待测开关器件的开关次数与该开关器件的预设可用开关次数参考阈值进行比较，根据比较结果确定所述待测开关器件的状态。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株洲中车时代电气股份有限公司，未经株洲中车时代电气股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710877993.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
