[发明专利]一种自下而上生长AlGaN基紫外及深紫外探测器阵列的方法有效
申请号: | 201710879804.7 | 申请日: | 2017-09-26 |
公开(公告)号: | CN107681017B | 公开(公告)日: | 2019-04-09 |
发明(设计)人: | 黎大兵;孙晓娟;贾玉萍;刘贺男;宋航;李志明;陈一仁;蒋红;张志伟 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | H01L31/105 | 分类号: | H01L31/105;H01L31/18 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所(普通合伙) 22210 | 代理人: | 陶尊新 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明公开了一种自下而上生长AlGaN基紫外及深紫外探测器阵列的方法,属于半导体技术领域。本发明解决了AlGaN基探测器阵列制备过程中,刻蚀工艺需要有毒气体、刻蚀工艺复杂、刻蚀后器件存在漏电通道的问题,所述方法包括以下步骤:(1)生长N型AlGaN基材料;(2)制备掩膜材料;(3)制备生长窗口;(4)生长I型AlGaN基材料和P型AlGaN基材料;(5)分别在N型AlGaN基材料和P型AlGaN基材料上制备欧姆接触电极。本发明方法避免了AlGaN基探测器阵列制备过程中有毒气体的使用,解决了刻蚀台面存在漏电通道的问题,并且工艺简单,成本低廉,具有广阔的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 基材料 制备 生长 深紫外探测器 刻蚀工艺 漏电通道 阵列制备 半导体技术领域 欧姆接触电极 刻蚀台面 生长窗口 掩膜材料 刻蚀 应用 | ||
【主权项】:
1.一种自下而上生长AlGaN基紫外及深紫外探测器阵列的方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)在衬底上生长N型AlGaN基材料;(2)在N型AlGaN基材料表面制备掩膜材料;(3)利用光刻胶刻蚀掩膜材料,制备AlGaN基紫外及深紫外探测器阵列生长窗口;(4)通过选择外延,在AlGaN基紫外及深紫外探测器阵列的生长窗口上依次生长I型AlGaN基材料和P型AlGaN基材料;(5)分别在N型AlGaN基材料和P型AlGaN基材料上制备欧姆接触电极,得到PIN结构的AlGaN基紫外及深紫外探测器阵列;在衬底上生长N型AlGaN基材料的生长方法采用“两步生长法”生长N型AlGaN基材料,即先生长AlGaN低温缓冲层,再升温生长非故意掺杂AlGaN并利用N型掺杂剂进行掺杂而生长N型AlGaN基材料。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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