[发明专利]短路不良的检测方法和装置有效
申请号: | 201710896303.X | 申请日: | 2017-09-28 |
公开(公告)号: | CN107705737B | 公开(公告)日: | 2021-01-26 |
发明(设计)人: | 冯雪欢;李永谦 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;刘伟 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种短路不良的检测方法和装置。所述短路不良的检测方法包括:在检测阶段包括的第一时间段,向外部补偿控制端提供第一外部补偿控制电压,以控制外部补偿控制晶体管导通;在该检测阶段包括的检测时间段,向外部补偿控制端提供第二外部补偿控制电压,以控制外部补偿控制晶体管关断;在检测时间段,将阳极层与检测仪器包括的导电电极层相对设置,并控制液晶层设置于该阳极层与该导电电极层之间,根据液晶层上是否存在暗点以判断相应的外部补偿像素驱动电路中是否存在短路不良。本发明能准确进行暗点显示不良,从而能够准确定位短路不良位置。 | ||
搜索关键词: | 短路 不良 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种短路不良的检测方法,采用外部检测仪器以检测待测基板包括的外部补偿像素驱动电路是否存在短路不良,所述待测基板包括衬底基板以及设置于所述衬底基板上的阳极层和阵列排布的多个外部补偿像素驱动电路,所述阳极层位于所述待测基板的最上方;所述阳极层包括阵列排布的多个阳极,一所述阳极与一所述外部补偿像素驱动电路对应连接;所述外部补偿像素驱动电路还与数据线、数据写入控制端、电源电压输入端、外部补偿控制端和外部补偿线连接;所述外部检测仪器包括导电电极层和液晶层;所述导电电极层接入预定电极电压;其特征在于,一检测阶段包括依次设置的第一时间段和检测时间段,所述短路不良的检测方法包括:在一检测阶段,向所述电源电压输入端提供预定电源电压,向所述数据线提供预定数据电压,向所述数据写入控制端提供预定数据写入控制电压,向所述外部补偿线提供预定外部补偿电压;所述预定电源电压与所述预定电极电压之间的电压差值的绝对值小于第一预定电压差值;在该检测阶段包括的第一时间段,向所述外部补偿控制端提供第一外部补偿控制电压,以控制所述外部补偿像素驱动电路包括的外部补偿控制晶体管导通;在该检测阶段包括的检测时间段,向所述外部补偿控制端提供第二外部补偿控制电压,以控制所述外部补偿像素驱动电路包括的外部补偿控制晶体管关断;在该检测阶段包括的检测时间段,将所述阳极层与所述检测仪器包括的导电电极层相对设置,并控制所述液晶层设置于该阳极层与该导电电极层之间,根据所述液晶层上是否存在暗点以判断相应的外部补偿像素驱动电路中是否存在短路不良。
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