[发明专利]平场校正方法及装置、图像验证方法及装置

摘要

本发明实施例提供了一种平场校正方法及装置、图像验证方法及装置。该平场校正方法利用调整曝光时间和增益后的相机获取暗场图像，避免了由于人工遮蔽镜头造成误操作，从而提高了暗场图像的质量，同时通过调整相机参数来获取暗场图像的方式减少了操作量，有效提高了暗场图像的获取效率。该平场校正方法对备用亮场图像中各个像素点的灰度值进行了均值滤波，滤除高频成分，从而减弱了白色参考物上的细粒、纹理不均匀、玻璃片有灰尘等特殊情况导致的备用亮场图像质量受损，有效提高了亮场图像的质量。本发明实施例通过提高暗场图像和亮场图像的质量提高了平场校正的校正精度，同时避免了人工操作来获取暗场图像，提高了暗场图像的获取效率。

主权项

1.一种平场校正方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：调整相机的曝光时间到最小，同时调整所述相机的增益到最小；利用调整后的所述相机采集目标物体的图像，得到暗场图像；调整所述相机的曝光时间到正常拍摄状态时的曝光时间，同时调整所述相机的增益到正常拍摄状态时的增益；利用调整后的所述相机采集所述目标物体的图像，得到备用亮场图像；对所述备用亮场图像中各个像素点的灰度值进行均值滤波，得到亮场图像；结合所述暗场图像和所述亮场图像，利用平场校正算法校正所述相机拍摄图像中各个像素点的灰度值。