[发明专利]一种提高Trim效率的方法在审
| 申请号： | 201710933432.1 | 申请日： | 2017-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN109660244A | 公开（公告）日： | 2019-04-19 |
| 发明（设计）人： | 游云辉;邓桃霞;朱辰旭 | 申请（专利权）人： | 上海御渡半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | H03K19/003 | 分类号： | H03K19/003 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201306 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种提高Trim效率的方法，包括：待Trim芯片；+1逻辑循环电路，测试单元，输出端；所述+1逻辑循环电路可直接修调芯片，为Trim电路的核心，采用内部的循环电路，实现校验值的自动读写；直接进行内部电路解析，在统一测量后，再确定校验值，最后得到有效波形。从芯片多点校验来说节省了大量的外部读写操作。与现有技术相比，本发明具有以下优点：1）不需要外部设备多次的读写寄存器，节省Trim的步骤和费用。2）解决并行测试效率，降低校验时间。3）可连续测量。 | ||
| 搜索关键词： | 校验 电路 逻辑循环 芯片 外部设备 读写寄存器 并行测试 测试单元 读写操作 连续测量 内部电路 循环电路 有效波形 输出端 读写 解析 测量 外部 统一 | ||
【主权项】：
1.一种提高Trim效率的方法，其特征在于，包括：+1逻辑循环电路，所述逻辑循环电路设置在所述芯片Trim的核心位置，采用内部的循环电路，实现校验值的自动读写，在统一测量后再确定校验值。
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