[发明专利]存储器设备及其测试方法以及存储器模块及使用其的系统有效
| 申请号： | 201710933838.X | 申请日： | 2017-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN108376555B | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 具滋凡 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王朋飞;张晶 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明可提供一种存储器装置。存储器装置可包括测试数据输出电路，其被配置成比较从低位数据存储区域输出的低位数据与从高位数据存储区域输出的高位数据并作出判定。存储器装置可包括数据发送器，其被配置成通过根据判定反转或不反转低位数据来输出低位数据。存储器装置可包括测试控制电路，其被配置成根据测试读取信号和地址信号生成测试控制信号。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 设备 及其 测试 方法 以及 模块 使用 系统 | ||
【主权项】：
1.一种存储器装置，其包括：测试数据输出电路，其被配置成通过比较从低位数据存储区域输出的低位数据与从高位数据存储区域输出的高位数据来生成判定信号，并且基于测试控制信号输出所述低位数据和所述判定信号；数据发送器，其被配置成通过根据所述判定信号反转或不反转所述低位数据来输出所述低位数据；以及测试控制电路，其被配置成根据测试读取信号和地址信号生成所述测试控制信号。
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