[发明专利]提高存储器寿命的方法有效
| 申请号： | 201710940632.X | 申请日： | 2017-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN107577440B | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 孙成思;孙日欣;李振华;刘国华 | 申请（专利权）人： | 深圳佰维存储科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06;G11C29/42 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 张明 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区桃*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提高一种提高存储器寿命的方法，包括：获取存储器样品的ECC最大值对应的擦除次数；获取存储器样品的ECC跳变点对应的擦除次数；读取存储器中各个块的擦除次数；依次判断各个块的擦除次数是否大于或等于所述ECC最大值对应的擦除次数；若是，则使用备份块替换所述块；若否，则判断所述块的擦除次数是否大于或等于所述ECC跳变点对应的擦除次数；若是，则转移所述块中的数据。根据闪存颗粒在不同擦除次数下的分布值和跳变规律，对相应存储器固件进行调整，极大提高了存储器的数据可靠性和使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 提高 存储器 寿命 方法 | ||
【主权项】：
一种提高存储器寿命的方法，其特征在于，包括：获取存储器样品的ECC最大值对应的擦除次数；获取存储器样品的ECC跳变点对应的擦除次数；读取存储器中各个块的擦除次数；依次判断各个块的擦除次数是否大于或等于所述ECC最大值对应的擦除次数；若是，则使用备份块替换所述块；若否，则判断所述块的擦除次数是否大于或等于所述ECC跳变点对应的擦除次数；若是，则转移所述块中的数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳佰维存储科技股份有限公司，未经深圳佰维存储科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710940632.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
