[发明专利]双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710943353.9 申请日: 2017-10-11
公开(公告)号: CN107884621B 公开(公告)日: 2019-11-22
发明(设计)人: 张亦弛;何昭;黄见明;郭晓涛;张子龙;聂梅宁;杨瑷宁;王立峰 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01R23/16 分类号: G01R23/16
代理公司: 11448 北京中强智尚知识产权代理有限公司 代理人: 姜精斌<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 100013 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法及装置,涉及射频微波信号测量技术领域,可以提高非线性矢量网络分析仪对复杂频谱成分被测对象的测量能力。所述方法包括:获取被测频段划分的被测子频段和与所述被测子频段对应的交叠频点;生成频谱成分覆盖所述被测子频段的第一相位参考信号;测量所述第一相位参考信号与预先生成的第二相位参考信号在所述交叠频点上的第一相位差;根据所述第一相位差,测量所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合;改变所述第一相位参考信号所覆盖的被测子频段,完成全部被测子频段的测量,将结果合并为非线性矢量网络分析仪的相位谱测量结果。
搜索关键词: 相位 参考 非线性 矢量 网络分析 测量方法 装置
【主权项】:
1.一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法,其特征在于,包括:/n获取被测频段划分的被测子频段和与所述被测子频段对应的交叠频点;/n生成频谱成分覆盖所述被测子频段的第一相位参考信号;/n测量所述第一相位参考信号与预先生成的第二相位参考信号在所述交叠频点上的第一相位差;/n根据所述第一相位差,测量被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合;/n改变所述第一相位参考信号所覆盖的被测子频段,完成全部被测子频段的测量,将结果合并为非线性矢量网络分析仪的相位谱测量结果。/n
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