[发明专利]一种晶体衍射信号获取方法在审
| 申请号： | 201710952341.2 | 申请日： | 2017-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN107703168A | 公开（公告）日： | 2018-02-16 |
| 发明（设计）人： | 窦作勇;张鹏程;马策;陈力;罗晋如;谈笑;李云;王旻;董平 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院材料研究所 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 成都天嘉专利事务所(普通合伙)51211 | 代理人： | 张新 |
| 地址： | 621700 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种晶体衍射信号获取方法，通过采用W靶X射线管，并用铅块屏蔽透射X射线，并加装滤波片减少干扰，可在面探测器上获得清晰的衍射图像。本发明方法可穿透3mm厚的铁，40mm厚的铝，快速获得晶体材料从表层到内部的衍射信号，有利于材料内部的物相、织构和应力分析。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体 衍射 信号 获取 方法 | ||
【主权项】：
一种晶体衍射信号获取方法，步骤为步骤一，将铁粉标样置于X射线管光路中心；步骤二，采用面探测器获取X射线衍射信号，使面探测器表面与入射X射线垂直；步骤三，在面探测器前方对应X射线透射的位置安装铅块；步骤四，开启X射线管，采用低电压、低电流，通过样品成像情况调整铅块位置，使之完全挡住透射X射线；步骤五，增加X射线管的电压和电流，设置探测器的参数；步骤六，根据衍射信号在面探测器上的分布情况，调整探测器与样品的距离，直至可采集清晰的衍射信号；步骤七，关闭X射线管，取下铁粉标样，换上待分析样品；步骤八，设置X射线管的工作电压、电流及探测器工作参数；步骤九，开启X射线管，待X射线管电压、电流达到设定值后，采集衍射信号，信号采集完毕后，探测器保存数据。
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