[发明专利]用于三维存储器的擦除验证方法以及存储器系统有效

专利信息
申请号: 201711097517.7 申请日: 2017-11-09
公开(公告)号: CN109767805B 公开(公告)日: 2020-12-11
发明(设计)人: 古绍泓;黄昱闳;程政宪;李致维;铃木淳弘;蔡文哲 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: G11C16/34 分类号: G11C16/34
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种用于三维存储器的擦除验证方法以及一种存储器系统。三维存储器包括至少一存储单元串,以及至少一存储单元串包括多个存储单元。存储单元包括一第一组存储单元以及一第二组存储单元。各存储单元耦接于一字线。擦除验证方法包括以下步骤。对第一组存储单元上执行一第一擦除验证操作。在对第一组存储单元执行第一擦除验证操作后,在第一组存储单元被验证为擦除成功的情况下,对第二组存储单元上执行一第二擦除验证操作。
搜索关键词: 用于 三维 存储器 擦除 验证 方法 以及 系统
【主权项】:
1.一种用于三维存储器的擦除验证方法,该三维存储器包括至少一存储单元串,该至少一存储单元串包括多个存储单元,所述存储单元包括一第一组存储单元以及一第二组存储单元,各所述存储单元耦接于一字线,该擦除验证方法包括:对该第一组存储单元执行一第一擦除验证操作;以及在对该第一组存储单元执行该第一擦除验证操作后,在该第一组存储单元被验证为擦除成功的情况下,对该第二组存储单元执行一第二擦除验证操作。
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