[发明专利]一种测试模式复用器以及存储芯片在审
| 申请号： | 201711108202.8 | 申请日： | 2017-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN107705820A | 公开（公告）日： | 2018-02-16 |
| 发明（设计）人： | 赖荣钦 | 申请（专利权）人： | 睿力集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京市铸成律师事务所11313 | 代理人： | 张臻贤,武晨燕 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测试模式复用器，用于存储芯片，包括测试模式开关和正常工作开关，通过测试模式开关和正常工作开关之间的路径切换，控制测试模式开关打开时，输入测试信号至内部电路进行测试，测试完成后，控制正常工作开关打开时，输入正常工作信号至内部电路进行运行，保证了在正常工作时，对内部电路的保护，避免输入的信号对内部电路造成损坏，同时，正常运行的路径并不受测试路径的影响。本发明还提供了一种存储芯片，具有上述技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 模式 复用器 以及 存储 芯片 | ||
【主权项】：
一种测试模式复用器，用于存储芯片，其特征在于，包括：测试模式开关，具有测试信号输入端、测试信号控制端和测试信号输出端，所述测试信号输入端用于接收测试信号，所述测试信号输出端连接存储芯片的内部电路，所述测试信号控制端用于接收控制所述测试模式开关通断的第一控制信号；及正常工作开关，具有正常工作输入端、正常工作控制端和正常工作输出端，所述正常工作输入端用于接收正常运行信号，所述正常工作输出端连接所述存储芯片的所述内部电路，所述正常工作控制端用于接收控制所述正常工作开关通断的第二控制信号。
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