[发明专利]一种无源UHF RFID芯片调制深度的测试方法

摘要

本发明公开了一种无源UHF RFID芯片调制深度的测试方法，包括，使所述RFID标签读写器以一初始调制深度向一待测试芯片发送启动查询命令；如可接收到所述待测试芯片对所述启动查询命令的完整响应，则以预定步长调整所述RFID标签读写器的调制深度至可接收到所述待测试芯片对所述启动查询命令的完整响应的临界值；记录所述临界值。本发明获得了以下有益效果：可对无源UHF RFID芯片的调制深度的容忍度进行有效的测试。

主权项

1.一种无源UHF RFID芯片调制深度的测试方法，其特征在于，提供一RFID标签读写器以及一射频信号分析装置，根据测试项目定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤4，使所述RFID标签读写器以一初始调制深度向一待测试芯片发送启动查询命令；步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试芯片通信过程中的射频信号；步骤6，如可接收到所述待测试芯片对所述启动查询命令的完整响应，则以预定步长调整所述RFID标签读写器的调制深度至可接收到所述待测试芯片对所述启动查询命令的完整响应的临界值；步骤7，记录所述临界值；步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤8，直至所有所述测试用例测试完毕。