[发明专利]FPGA芯片中DSP模块的功能测试方法及装置有效
| 申请号： | 201711130799.6 | 申请日： | 2017-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN107942240B | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | 蒯金;周忠斌 | 申请（专利权）人： | 深圳市紫光同创电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3181 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 刘贻盛 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种FPGA芯片中DSP模块的功能测试方法及功能测试装置，属于FPGA芯片技术领域。该功能测试方法包括以下步骤：对FPGA芯片内部的每一DSP模块进行相同功能配置，并通过FPGA芯片内部的MEM模块读取输入激励到每一DSP模块中；将每一DSP模块的输出结果分别与MEM模块存储的期望输出结果进行异或比较，得到每一DSP模块的多组多位异或结果；对每一DSP模块的多组多位异或结果依次进行反馈式或运算，以依次将前一组或运算结果反馈回来跟后一组进行或运算，使得多组多位异或结果最终减至成一位输出，以获得每一DSP模块的测试结果。本发明可最大限度降低对测试条件的要求，只需要借助FPGA芯片中的MEM模块，便可完成FPGA芯片中所有DSP模块的功能测试。 | ||
| 搜索关键词： | fpga 芯片 dsp 模块 功能 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种FPGA芯片中DSP模块的功能测试方法，其特征在于，所述功能测试方法包括以下步骤：对FPGA芯片内部的每一DSP模块进行相同功能配置，并通过所述FPGA芯片内部的MEM模块读取输入激励到每一所述DSP模块中；将每一所述DSP模块的输出结果分别与所述MEM模块存储的期望输出结果进行异或比较，得到每一所述DSP模块的多组多位异或结果；对每一所述DSP模块的多组多位异或结果依次进行反馈式或运算，以依次将前一组或运算结果反馈回来跟后一组进行或运算，使得所述多组多位异或结果最终减至成一位输出，以获得每一所述DSP模块的测试结果。
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