[发明专利]一种异常LED芯粒的挑除方法及挑除系统在审
| 申请号： | 201711144177.9 | 申请日： | 2017-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN107983665A | 公开（公告）日： | 2018-05-04 |
| 发明（设计）人： | 邬新根;刘英策;刘兆;李俊贤;吴奇隆 | 申请（专利权）人： | 厦门乾照光电股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人： | 骆宗力,王宝筠 |
| 地址： | 361100 福建省厦门市火炬*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种异常LED芯粒的挑除方法及挑除系统，其中，所述异常LED芯粒的挑除方法利用UV失粘膜的紫外曝光后失去粘性的特点实现对异常LED芯粒的挑除，并且无需额外开设机台，对原有的光电性能测试设备进行改进即可，无需使用红墨水对异常LED芯粒进行标记，不存在出现误标记正常LED芯粒的情况，并且相较于使用分选机对异常LED芯粒进行挑除的方法，具有挑除效率高，挑除成本低，且具有适用于各类尺寸和形状的LED芯粒的特点，适用性较好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 异常 led 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种异常LED芯粒的挑除方法，其特征在于，包括：将多个LED芯粒设置于UV失粘膜表面，并将设置有多个LED芯粒的UV失粘膜放置于光电性能测试设备的承托盘表面，所述承托盘为透明材质的承托盘；利用所述光电性能测试设备对多个所述LED芯粒进行光电性能测试，并透过所述承托盘对光电性能测试不合格的LED芯粒进行紫外曝光处理；在多个所述LED芯粒背离所述UV失粘膜一侧设置蓝膜；分离所述蓝膜与多个所述LED芯粒。
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