[发明专利]一种检测光学薄膜平整度的装置在审
| 申请号： | 201711147526.2 | 申请日： | 2017-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN107782263A | 公开（公告）日： | 2018-03-09 |
| 发明（设计）人： | 刘志国;陈毅;谢雨江 | 申请（专利权）人： | 成都菲奥姆光学有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610000 四川省成都市双流区*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测光学薄膜平整度的装置，包括检测装置和底盘，所述底盘下端面设置有两组滑轮，检测装置一端设置有进入口，检测装置的另一端设置有出入口，所述检测装置内设置有固定滚筒和抬升滚筒，所述固定滚筒和抬升滚筒的旋转方向相反，将从进入口进入的光学薄膜向出入口方向滚出，所述滚出方向上还设置有检测板，检测板上设置有若干个红外检测头，通过红外检测头检测光学薄膜平整度。目前，现有的检测方式通常是人工抽检，通过手持或者精密的红外检测仪器对光学薄膜的平整度进行检测，这样检测的效率不高，并且仅能够进行抽样检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 光学薄膜 平整 装置 | ||
【主权项】：
一种检测光学薄膜平整度的装置，其特征在于，包括检测装置(1)和底盘(2)，所述底盘(2)下端面设置有两组滑轮(21)，检测装置(1)一端设置有进入口(13)，检测装置(1)的另一端设置有出入口(14)，所述检测装置(1)内设置有固定滚筒(11)和抬升滚筒(12)，所述固定滚筒(11)和抬升滚筒(12)的旋转方向相反，将从进入口(13)进入的光学薄膜向出入口(14)方向滚出，所述滚出方向上还设置有检测板(3)，检测板(3)上设置有若干个红外检测头(31)，通过红外检测头(31)检测光学薄膜平整度。
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