[发明专利]一种基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统在审
| 申请号： | 201711154330.6 | 申请日： | 2017-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN107894425A | 公开（公告）日： | 2018-04-10 |
| 发明（设计）人： | 王骏;沈成峰;校忠 | 申请（专利权）人： | 伟创力电子技术(苏州)有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 苏州广正知识产权代理有限公司32234 | 代理人： | 孙茂义 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统，包括历史缺陷图片对比装置、IPC标准对比装置、信息远程控制装置和数据处理装置。通过上述方式，本发明基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统，通过远程控制多台设备，操作员根据二维自动光学检测机的测试报告判断当前产品的错误和缺陷，具有可靠性能高、错误率低、效率高、成本低等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 二维 自动 光学 检测 缺陷 辅助 系统 | ||
【主权项】：
一种基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统，其特征在于，包括：历史缺陷图片对比装置、IPC标准对比装置、信息远程控制装置和数据处理装置，所述历史缺陷图片对比装置用于接收和显示所述数据处理装置发出的历史缺陷图片信息，所述IPC标准对比装置用于接收和显示所述数据处理装置发出的IPC判断标准信息，所述信息远程控制装置根据所述数据处理装置发出的报错信息，定位调取相应的二维自动光学检测机的测试报告。
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