[发明专利]一种适用于电子设备的嵌入式测试单元装置及方法

摘要

本发明公开了一种适用于电子设备的嵌入式测试单元装置及方法，包括标准数字BIT芯片、标准模拟BIT芯片及射频微波标准BIT芯片；标准模拟BIT芯片和所述射频微波标准BIT芯片采集的信号都传送到所述标准数字BIT芯片，所述标准数字BIT芯片通过各种接口与上位机通信实现功能控制和信息的采集。本发明标准BIT芯片设计满足嵌入式测试单元的硬件需求，组合式设计和测试性匹配优化算法通过软件实现满足嵌入式测试性单元设计的软件需求。通过硬软件的结合辅助设计人员实现电子设备功能与BIT的一体化设计，满足各类测试性要求。

主权项

一种适用于电子设备的嵌入式测试单元装置，其特征是，包括标准数字BIT芯片、标准模拟BIT芯片及射频微波标准BIT芯片；所述标准模拟BIT芯片和所述射频微波标准BIT芯片采集的信号都传送到所述标准数字BIT芯片，所述标准数字BIT芯片通过各种接口与上位机通信实现功能控制和信息的采集；其中，模拟被测功能电路中的模拟节点信号通过信号检测通道直接与标准模拟BIT芯片连接，用于电压、频率、波形参数测试并以串行数据形式输出；信号在标准数字BIT芯片里可以获得处理最终转换为数字信号，从而实现标准数字BIT芯片与标准模拟BIT芯片的组合；对于射频微波被测电路，通过将射频微波探测点引入射频微波标准BIT芯片，由射频微波标准BIT芯片获取测试信息并将测试信息转化为模拟信号，实现射频微波标准BIT芯片与标准模拟BIT芯片的组合；射频微波标准BIT芯片中的模拟信号中通过内部的ADC转化为数字信号，实现射频微波标准BIT芯片与标准数字BIT芯片的组合。