[发明专利]一种发射光谱仪积分时间上限的设定方法

摘要

一种发射光谱仪积分时间上限的设定方法，包括步骤：获取一次激发光源在N个不同梯度积分时间条件下的空白光谱图；计算N个不同梯度积分时间条件下的平均空白光谱图；对不同波长处平均空白光谱强度Ib与积分时间T做线性回归拟合，得到空白背景光谱时间比例系数kd与背景常数bd；设定CCD探测器量程上限FS；设定检出限的置信系数t；设定光源空白光谱波动水平特征值[RSD]b；设定待检测元素量程上限与该元素预估检出限的倍数α；根据公式计算积分时间上限。由于可以通过公式实现计算机辅助计算，解放工人操作，只需要测试一次激发光源在不同梯度积分时间条件下的空白光谱图，避免了对不同元素、不同特征谱线、不同浓度条件下分别进行积分条件优化。

主权项

1.一种发射光谱仪积分时间上限设定的计算方法，所述发射光谱仪的探测器为CCD探测器，其特征在于，所述CCD探测器的积分时间上限设定的计算方法包括步骤：

获取一次激发光源在N个不同梯度积分时间条件下的空白光谱图，N大于等于2；

计算N个不同梯度积分时间条件下的平均空白光谱图；

对不同波长处平均空白光谱强度I_b与积分时间T做线性回归拟合,得到空白背景光谱时间比例系数k_d与背景常数b_d；

设定CCD探测器量程上限FS；

设定检出限的置信系数t；

设定光源空白光谱波动水平特征值[RSD]_b；

设定待检测元素量程上限与该元素预估检出限的倍数α；

根据公式计算积分时间上限。

2.如权利要求1所述的计算方法，其特征在于，所述计算N个不同梯度积分时间条件下的平均空白光谱图，具体为：

对每个梯度积分时间条件下的空白光谱图进行M次测试，且N个梯度积分时间中的最高积分时间条件下的光谱图中不出现饱和值，M大于等于1；

计算M次测试的平均空白光谱图。

3.如权利要求2所述的计算方法，其特征在于，所述CCD探测器量程上限FS设定为满量程值，或根据CCD探测器的线性影响范围设定FS。

4.如权利要求1所述的计算方法，其特征在于，所述空白背景光谱时间比例系数k_d为，k_d＝k_n+k_p，其中，k_n为CCD探测器暗噪声的时间比例系数，k_p为等离子体背景的时间比例系数。