[发明专利]半导体装置在审
| 申请号： | 201711274398.8 | 申请日： | 2017-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN108334657A | 公开（公告）日： | 2018-07-27 |
| 发明（设计）人： | 竹内干;土屋文男;小西信也 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 韩峰;孙志湧 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种半导体装置。所述半导体装置可以基于施加到所述半导体装置的劣化应力的累积值，诸如，电源电压或者环境温度，高精确度地预测磨损故障，所述半导体装置包括：第一电路，所述第一电路保持第一累积劣化应力计数值；第二电路，所述第二电路保持第二累积劣化应力计数值；第三电路，所述第三电路保持累积操作时间的计数值或者与所述累积操作时间的计数值对应的值；以及第四电路或者操作单元，所述第四电路或者所述操作单元接收所述第一累积劣化应力计数值、所述第二累积劣化应力计数值、和所述累积操作时间的计数值或者与所述累积操作时间的值对应的值。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体装置 劣化 应力计 电路 电路保持 操作单元 电源电压 磨损 施加 预测 | ||
【主权项】：
1.一种半导体装置，所述半导体装置包括：第一电路，所述第一电路保持第一累积劣化应力计数值；第二电路，所述第二电路保持第二累积劣化应力计数值；第三电路，所述第三电路保持累积操作时间的计数值或者与所述累积操作时间的计数值对应的值，以及第四电路或者操作单元，所述第四电路或者所述操作单元接收所述第一累积劣化应力计数值、所述第二累积劣化应力计数值、以及所述累积操作时间的计数值或者与所述累积操作时间的值对应的值。
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