[发明专利]JTAG调试器的调试方法、调试器及系统在审
| 申请号： | 201711276058.9 | 申请日： | 2017-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN108107351A | 公开（公告）日： | 2018-06-01 |
| 发明（设计）人： | 田军;段媛媛;贾红;程显志;陈维新;韦嶔 | 申请（专利权）人： | 西安智多晶微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人： | 刘长春 |
| 地址： | 710075 陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及JTAG器件技术领域，具体涉及一种JTAG调试器的调试方法、调试器及系统，包括如下步骤：(a)接收上位机传输的SVF文件；(b)解析所述SVF文件并生成调试信号；(c)输出所述调试信号。本发明实施例无需通过USB端口控制JTAG端口电平，而采用了在JTAG调试器中直接解析SVF文件并生成对应的调试信号，大大提高了JTAG调试器的调试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 调试信号 调试器 解析 调试 接收上位机 调试效率 传输 输出 | ||
【主权项】：
1.一种JTAG调试器的调试方法，其特征在于：包括：(a)接收上位机传输的SVF文件；(b)解析所述SVF文件并生成调试信号；(c)输出所述调试信号。
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