[发明专利]测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 201711276164.7 | 申请日： | 2017-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN109884518A | 公开（公告）日： | 2019-06-14 |
| 发明（设计）人： | 健一长谷 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试公司 |
| 主分类号： | G01R31/3193 | 分类号： | G01R31/3193 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 宗晓斌 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供测试装置及测试方法。降低抖动或漂移的影响并检查被测试设备。时间测定单元(310)测定包含从被测试设备(DUT)(400)输出的串行数据的被测试信号(DUT_Output)的监测对象的边沿的时间间隔。比较判定部(320)从被测定的时间间隔算出监测对象的边沿之间所包含的串行数据的比特数，并将该比特数与其期望值进行比较。 | ||
| 搜索关键词： | 被测试设备 测试装置 串行数据 监测对象 比特数 漂移 时间测定单元 被测试信号 比较判定部 测试 抖动 输出 检查 | ||
【主权项】：
1.一种测试装置，其特征在于，包括：时间测定单元，其测定包含从被测试设备输出的串行数据的被测试信号的监测对象的边沿的时间间隔，以及比较判定部，其从被测定的时间间隔算出上述监测对象的边沿之间所包含的串行数据的比特数，并将该比特数与其期望值进行比较。
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