[发明专利]半导体器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201711278787.8 申请日: 2017-12-06
公开(公告)号: CN109585448B 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 郑兆钦;云惟胜;陈奕升;余绍铭;陈自强;叶致锴 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L21/8238
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明实施例提供一种半导体器件,其包括:衬底;在衬底上方的I/O器件;以及在衬底上方的核心器件。I/O器件包括第一栅极结构,第一栅极结构具有:界面层;在界面层上方的第一高k介电堆叠件;以及导电层,导电层在第一高k介电堆叠件上方并且与第一高k介电堆叠件物理接触。核心器件包括第二栅极结构,第二栅极结构具有:界面层;在界面层上方的第二高k介电堆叠件;以及导电层,导电层在第二高k介电堆叠件上方并且与第二高k介电堆叠件物理接触。第一高k介电堆叠件包括第二高k介电堆叠件和第三介电层。本发明实施例还提供一种制造半导体器件的方法。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
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