[发明专利]一种集成电路测试数据的筛选方法及装置有效
| 申请号： | 201711280543.3 | 申请日： | 2017-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN108037433B | 公开（公告）日： | 2021-05-04 |
| 发明（设计）人： | 奚留华 | 申请（专利权）人： | 无锡中微腾芯电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人： | 殷红梅 |
| 地址： | 214135 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路测试数据的筛选方法，其中，包括获取集成电路测试数据；计算各测试参数中的最大值与最小值之间的差值；计算每个测试参数的片平均值和批平均值；计算片平均值与批平均值的片相差百分比；计算各测试参数的总平均值以及批平均值与总平均值的批相差百分比；判断每个测试参数的片相差百分比是否大于百分比阈值以及批相差百分比是否大于百分比阈值；若是，则将该片相差百分比对应的测试参数片号进行标记，和/或，则将该批相差百分比对应的测试参数批号进行标记。本发明还公开了一种集成电路测试数据的筛选装置。本发明提供集成电路测试数据的筛选方法，提高了数据筛选的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试数据 筛选 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路测试数据的筛选方法，其特征在于，所述集成电路数据为多个不同测试参数组成的总数据，每片集成电路包括多个相同的电路结构，所述集成电路测试数据的筛选方法包括：获取集成电路测试数据，所述集成电路测试数据包括多个测试参数的测试数据，每个测试参数的测试数据包括多批次集成电路测试完成后得到的数据，每批次集成电路测试数据包括多个片集成电路测试完成后得到的片集成电路测试数据，每个片集成电路测试数据包括多个电路结构测试完成后得到的子集成电路测试数据；计算每个测试参数同批次数据的最大值与最小值之间的差值，每个所述测试参数得到一个差值；计算每个测试参数同批次的每片集成电路测试数据的平均值，每个所述片集成电路测试数据得到一个片平均值；计算每个测试参数同批次集成电路测试数据的平均值，每个所述批集成电路测数据得到一个批平均值；计算同批次的每个片集成电路测试数据的片平均值与该测试参数的批平均值的片相差百分比，每个所述片集成电路测试数据对应一个片相差百分比；计算所有测试参数的总平均值，每个所述测试参数对应一个总平均值；计算每个所述测试参数的批平均值与该测试参数的总平均值的批相差百分比，每个所述批集成电路测试数据对应一个批相差百分比；判断每个所述测试参数的片相差百分比是否大于百分比阈值以及每个所述测试参数的批相差百分比是否大于百分比阈值；若所述测试参数的片相差百分比大于百分比阈值，则将该片相差百分比对应的测试参数片号进行标记，和/或，若所述测试参数的批相差百分比大于百分比阈值，则将该批相差百分比对应的测试批号进行标记。
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