[发明专利]半导体器件以及接触插塞有效
申请号: | 201711292996.8 | 申请日: | 2017-12-08 |
公开(公告)号: | CN108231727B | 公开(公告)日: | 2023-08-08 |
发明(设计)人: | 李义福 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L23/498 | 分类号: | H01L23/498;H01L23/538 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王新华 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本公开提供了半导体器件以及接触插塞。一种半导体器件具有高的电连接可靠性并且包括:基底基板,具有连接目标层;下接触插塞,形成在基底基板之上并电连接到连接目标层;以及上接触插塞,形成在下接触插塞之上,其中下接触插塞包括:下插塞层,具有从下插塞层的顶部分向内延伸的间隙部分;间隙覆盖层,填充间隙部分;以及上覆盖层,覆盖下插塞层的顶表面。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 以及 接触 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:基底基板,包括连接目标层;下接触插塞,在所述基底基板之上并电连接到所述连接目标层;以及上接触插塞,在所述下接触插塞之上,所述下接触插塞包括:下插塞层,限定从所述下插塞层的顶部分向内延伸的间隙部分;间隙覆盖层,填充所述间隙部分;以及上覆盖层,覆盖所述下插塞层的顶表面。
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