[发明专利]平板探测器残影校正方法及其校正装置有效
申请号: | 201711298196.7 | 申请日: | 2017-12-08 |
公开(公告)号: | CN108171765B | 公开(公告)日: | 2021-06-18 |
发明(设计)人: | 苏晓芳 | 申请(专利权)人: | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 |
主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00;G06T5/00 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 王华英 |
地址: | 201201 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种平板探测器残影校正方法,通过测试数据提取出单帧图像残影衰减系数,利用该系数实时计算出前N张图像残留在当前帧图像里的残影值,并对当前帧图像做实时校正。该方法简洁、不增加硬件成本,不损失有效图像信息;既能够大幅降低残影值,又不会造成校正过量,有效提高成像质量;该残影校正系数能够在任何曝光剂量,任何曝光时长下使用,该系数只与材料本身性质有关,对于同一批次同一材料的X射线平板探测器,该系数均能适用;在后续产品升级或者维护中,并不需要技术人员的现场服务,只需发布优化升级的软件包即可,从而降低人力成本,提高工作效率。 | ||
搜索关键词: | 平板 探测器 校正 方法 及其 装置 | ||
S1、通过测试获取亮场图像及曝光前后暗场图像信息;
S2、计算单帧图像残留在后续图像中的残影值,通过拟合所述单帧图像残留在后续图像中的残影值,计算单帧图像的残影衰减系数;
S3、根据所述单帧图像的残影衰减系数迭代计算前n帧图像残留在当前帧的残影积累量,n为大于1的正整数;
S4、以当前帧采集图像减去前n帧图像残留在当前帧的残影积累量,获得残影校正后的图像。
2.根据权利要求1所述的平板探测器残影校正方法,其特征在于,在所述步骤S1中,获取亮场图像及曝光前后暗场图像信息至少包括以下步骤:S11、开机预热;
S12、采集本底校正模板、增益校正模板、坏点校正模板并存储;
S13、以设定曝光时间对平板探测器进行曝光,连续采集暗场‑亮场‑暗场图像,其中,所述设定曝光时间为m*T,m为小于5的正整数,T为单帧图像采集时间;
S14、对采集的图像进行本底校正、增益校正、坏点校正;
S15、存储本底校正、增益校正、坏点校正后的图像。
3.根据权利要求2所述的平板探测器残影校正方法,其特征在于,在所述步骤S2中,计算单帧图像残影衰减系数包括以下步骤:S21、读取步骤S15中存储的暗场‑亮场‑暗场图像;
S22、计算所述设定曝光时间内残留的残影系数,满足关系:Klag(n)=(D2(n)‑D1)/(L‑D1)*100%,其中,D1为曝光之前采集到的暗场图像的图像均值,D2(n)为曝光之后采集到的第n帧暗场图像的图像均值,L为亮场图像的图像均值;其中,n为正整数;
S23、将所述设定曝光时间内残留的残影值近似为M帧亮场图像累积的残影系数,由M帧亮场图像残留在后续图像中的残影系数Klag(n),直接反推计算出单帧图像残留在后续图像中的残影系数k(n),其中,M为介于m~m+3之间的整数;其中,n为正整数,表示图像序列;
S24、通过拟合所述单帧图像残留在后续图像中的残影系数,获得单帧图像的残影衰减系数ai,bi;其中,ai表示残影指数衰减速率,bi表示残影比例系数,j为拟合函数的指数个数,i为从1到j的正整数;
S25、存储所述单帧图像的残影衰减系数。
4.根据权利要求3所述的平板探测器残影校正方法,其特征在于,在所述步骤S3中,计算出前n帧图像残留在当前帧的残影积累量包括以下步骤:S31、将所述单帧图像的残影衰减系数导入迭代算法,获得单帧亮场图像残留在其后面第n帧图像的残影值:其中,X为单帧亮场的图像矩阵;
S32、通过迭代累积计算出前n‑1帧图像残留在第n帧图像的残影值:其中,l为从1到n‑1的正整数,X(n‑l)为第n‑l帧校正后的图像矩阵。
5.根据权利要求4所述的平板探测器残影校正方法,其特征在于,在所述步骤S4中,残影校正后的图像矩阵满足:其中,X(n)为当前帧校正后的图像矩阵,Y(n)为当前帧采集的图像矩阵。6.根据权利要求5所述的平板探测器残影校正方法,其特征在于,在所述步骤S4中,还包括通过调用Sn‑1、Xn‑1对第n帧图像进行残影校正,满足如下关系:其中其中,n为正整数,代表图像序列,Si(n)为简化计算而设置的循环迭代量。7.一种平板探测器残影校正装置,其特征在于,所述平板探测器残影校正装置包括:依次相连的图像采集模块、预设图像基本校正子模块、图像残影校正模块和图像显示模块;所述图像采集模块用于将光信号转换为电信号,并将电信号转化为数字信号后输出;
所述预设图像基本校正子模块连接于所述图像采集模块的输出端,用于对所述图像采集模块输出的信号进行本底校正、增益校正及坏点校正;
所述图像残影校正模块连接于所述预设图像基本校正子模块的输出端,用于对所述预设图像基本校正子模块输出的信号进行残影校正;
所述图像显示模块连接于所述图像残影校正模块的输出端,用于对所述图像残影校正模块输出的图像进行显示。
8.根据权利要求7所述的平板探测器残影校正装置,其特征在于,所述图像采集模块包括TFT面板、信号读出单元、信号放大单元及模数转换单元;所述TFT面板接收经过闪烁体的光信号,并将光信号转换为电信号;
所述信号读出单元连接于所述TFT面板,用于将所述TFT面板中存储的电信号读出;
所述信号放大单元连接于所述信号读出单元的输出端,用于对所述信号读出单元输出端的信号进行放大处理;
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