[发明专利]触摸屏寿命的测试方法在审

专利信息
申请号: 201711302957.1 申请日: 2017-12-08
公开(公告)号: CN109900977A 公开(公告)日: 2019-06-18
发明(设计)人: 刘志凯;吴旭博;陈敬华;祝博 申请(专利权)人: 鸿准精密模具(昆山)有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01M99/00;G06F3/045
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 康春
地址: 215316 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种触摸屏寿命测试方法,包括如下步骤:提供一具有开孔的测试板以及至少一测试珠;提供一待测屏,同时在该待测屏上任意选择一具有触摸功能的测试区域;提供一振动试验机台,将所述待测屏及所述测试板固定于所述振动试验机台上,所述测试板位于所述待测屏之上且所述开孔正对所述测试区域,所述测试球置于所述开孔内;所述振动试验机台振动;每隔一预定时间检查所述待测屏的功能是否正常;记录所述待测屏幕每一次测试时间以及每次测试结果。
搜索关键词: 测试板 开孔 机台 测试区域 振动试验 触摸屏 测试 振动试验机 触摸功能 时间检查 寿命测试 测试球 正对 屏幕 记录
【主权项】:
1.一种触摸屏寿命的测试方法,包括如下步骤:提供一具有开孔的测试板以及至少一测试珠;提供一待测屏,同时在该待测屏上任意选择一具有触摸功能的测试区域;提供一振动试验机台,将所述待测屏及所述测试板固定于所述振动试验机台上,所述测试板位于所述待测屏之上且所述开孔正对所述测试区域,所述测试珠置于所述开孔内;所述振动试验机台振动;每隔一预定时间检查所述待测屏的功能是否正常;及记录所述待测屏幕每一次测试时间以及每次测试结果。
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