[发明专利]使用光学邻近效应修正模型产生光掩模的方法在审

专利信息
申请号: 201711318482.5 申请日: 2017-12-12
公开(公告)号: CN109917615A 公开(公告)日: 2019-06-21
发明(设计)人: 蔡佳君;杜佳峰 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: G03F1/36 分类号: G03F1/36
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种使用光学邻近效应修正模型产生光掩模的方法,包括提供测试光掩模,该测试光掩模具有特征四边形,依照尺寸与长宽比的变化而不同。对该特征四边形的每一个角落加入多种不同的衬线图案。使用具有衬线图案的每一个该测试光掩模,在晶片上形成多个测试图案。测量与统计分析该多个测试图案的至少一个几何参数,以决定出一特定衬线图案给每一个该测试光掩模的该角落。建立光学邻近效应修正模型,包括每一个该测试光掩模在该角落的该特定衬线图案。接收一数据库布局图案。使用光学邻近效应修正模型产生第一数据库布局图案。执行光学邻近效应修正流程,以对该第一数据库布局图案最佳化成第二数据库布局图案。根据第二数据库布局图案产生光掩模。
搜索关键词: 光学邻近效应修正 测试光掩模 布局图案 线图案 数据库 模型产生 光掩模 测试图案 几何参数 统计分析 长宽比 最佳化 晶片 测量
【主权项】:
1.一种使用光学邻近效应修正模型产生光掩模的方法,其特征在于,包括:提供测试光掩模,所述测试光掩模具有特征四边形,依照尺寸与长宽比的变化而不同;对所述特征四边形的每一个角落加入多种不同的衬线图案;使用具有所述衬线图案的每一个所述测试光掩模,在晶片上形成多个测试图案;测量与统计分析所述多个测试图案的至少一个几何参数,以决定出一特定衬线图案给每一个所述测试光掩模的所述角落;建立光学邻近效应修正模型,包括每一个所述测试光掩模在所述角落的所述特定衬线图案;接收一数据库布局图案;使用所述光学邻近效应修正模型产生第一数据库布局图案;执行光学邻近效应修正流程,以对所述第一数据库布局图案最佳化成第二数据库布局图案;以及根据所述第二数据库布局图案产生光掩模。
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