[发明专利]一种用于检测显示面板中像素电位的电路及方法、显示面板有效

专利信息
申请号: 201711322422.0 申请日: 2017-12-12
公开(公告)号: CN108182895B 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 洪光辉 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) 44238 代理人: 潘中毅;熊贤卿
地址: 430000 湖北省武汉市武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种用于检测显示面板中像素电位的电路及方法、显示面板,电路包括多路输出选择器、至少一个检测电路以及至少一个信号放大器;检测电路包括一个第一薄膜晶体管,第一薄膜晶体管接入测试信号并与多路输出选择器连接;多路输出选择器根据反向时钟信号选择将待检测子像素单元连接的第一数据线与第一薄膜晶体管接通,以将待检测子像素单元的像素电位信号输送至第一薄膜晶体管,控制第一薄膜晶体管将测试信号输送至信号放大器;信号放大器将所述测试信号进行放大,转化为接收信号输出。本发明可以测量显示面板中的真实像素电位。
搜索关键词: 一种 用于 检测 显示 面板 像素 电位 电路 方法
【主权项】:
1.一种用于检测显示面板中像素电位的电路,其特征在于,包括多路输出选择器、至少一个检测电路以及至少一个信号放大器;所述检测电路包括一个第一薄膜晶体管,所述第一薄膜晶体管的第一端接入测试信号,第二端与所述信号放大器连接,第三端与所述多路输出选择器连接;所述多路输出选择器,与显示面板的第一数据线以及所述检测电路连接,用于根据反向时钟信号选择将待检测子像素单元连接的第一数据线与所述第一薄膜晶体管接通,以将所述待检测子像素单元的像素电位信号输送至所述第一薄膜晶体管,控制所述第一薄膜晶体管将所述测试信号输送至所述信号放大器;所述信号放大器,用于接收所述测试信号,并将所述测试信号进行放大,转化为接收信号输出;用于检测显示面板中像素电位的电路中薄膜晶体管的第一端为源极和漏极中的一个,第二端为源极和漏极中的另一个,第三端为栅极。
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