[发明专利]采样方法、采样控制方法、采样装置及采样控制系统

摘要

本申请公开了一种采样方法、采样控制方法、采样装置、采样控制装置、采样控制系统及显示装置，用以缩短采样像素单元的亮度信息的时间，进而提高了调整像素单元的亮度的速度，提高了显示面板的亮度均一性。本申请提供的一种采样方法，用于对显示基板上设置的像素单元进行采样，该方法包括：控制器控制多个采样模块同时开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道采样得到的所述像素单元的亮度信息；控制器依次控制一组采样通道同时开启，使得该组采样通道同时进行亮度信息的采样，并将采样到的所述亮度信息通过该组采样通道的输出端传输给与该组采样通道相连的各采样模块。

主权项

1.一种采样方法，用于对显示基板上设置的像素单元进行采样，其特征在于，该方法包括：控制器控制多个采样模块同时开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道采样得到的所述像素单元的亮度信息；其中，每一采样模块与多个采样通道相连，每一采样通道包括输入端和输出端，所述输入端用于采样显示基板上一部分区域的像素单元的亮度信息，所述输出端用于将采样得到的所述亮度信息传输给与该采样通道相连的采样模块；采样模块用于接收并保存采样通道输入的亮度信息；控制器依次控制一组采样通道同时开启，使得该组采样通道同时进行亮度信息的采样，并将采样到的所述亮度信息通过该组采样通道的输出端传输给与该组采样通道相连的各采样模块；其中，在同一时刻打开的采样通道为一组采样通道，每组采样通道中的各采样通道分别与不同的采样模块相连。