[发明专利]基于片上嵌入式微系统及其内部FPGA资源内建自测试方法

摘要

一种基于片上嵌入式微系统及其内部FPGA资源内建自测试方法，针对微系统芯片内部FPGA资源进行测试。考虑单片FPGA资源利用率的限制，每种待测资源分别对应多个测试文件，所有测试文件存储于嵌入式微系统存储器中。依据测试顺序，通过嵌入式微系统内部处理器模拟SelectMAP时序将测试文件分时加载。测试文件还可通过内部处理器实现在线更新。测试过程中对应的FPGA输入输出信号亦由微系统内部处理器提供或检测。本发明方法依靠微系统芯片自身资源实现对微系统内部FPGA的功能测试，无需外部复杂的控制和存储器件，亦不需要大型测试设备，极大简化了系统设计。采用SelectMap模式加载，测试效率得到大幅提高。测试文件还可在线更新，使得测试系统更加灵活。

主权项

1.一种基于片上嵌入式微系统的芯片内部FPGA资源内建自测试方法，其特征在于步骤如下：(1)将FPGA资源测试所需的测试文件和内部处理器的运行程序存储于微系统的相应存储器中；(2)上电后，内部处理器从存储器中加载运行程序，并将FPGA的测试文件读出，模拟SelectMAP时序将测试文件分时加载到FPGA中，根据测试文件固化FPGA资源；(3)FPGA资源测试时，内部处理器提供资源测试所需信号，并根据测试文件固化的FPGA资源进行相应测试，得到并检测测试输出信号。